EDAX OIM Analysis（Orientation Imaging Microscopy Analysis）是 EDAX（现隶属 AMETEK/Gatan）公司开发的领先 EBSD（电子背散射衍射）数据分析软件061080，专用于微观结构可视化和分析 EBSD 映射数据。它被誉为 EBSD 领域的行业标准工具，适用于材料科学、冶金、增材制造、焊接变形等领域的晶体取向、纹理、相鉴别、应变和晶粒分析。
主要功能
高级标定与再标定：支持 Triplet Indexing、Chi-Scan、NPAR（邻域模式平均重构）和专利技术，提升低质量图案的标定率（可达 98%+）。
OIM Matrix 模块（核心扩展）：动态模拟 EBSD 图案，支持球形标定（Spherical Indexing）和字典标定（Dictionary Indexing），显著提高取向精度（优于 HR-EBSD，但速度快 100 倍）、相鉴别和噪声抑制。适合变形材料、高熵合金等复杂样品。
数据可视化与分析：交互式地图（IPF 取向图、相图、KAM 内核平均取向差、晶粒大小）、极图/反极图、ODF（取向分布函数）、母相晶粒重建、应变分析、抗晶粒分析（处理未标定点）。
分区与高亮：数据分区（Partitioning）、交互高亮，快速调查微观特征。
性能优化：多线程支持、GPU 加速、大数据集处理、一键模板分析。
集成：与 APEX（EDAX 采集软件）无缝结合，支持 EDS+EBSD 联合分析。
与 AZtecCrystal（Oxford Instruments）的比较
OIM Analysis：更注重高级再标定和精度优化（如 Spherical Indexing 更快、更准于传统 Hough），适合挑战性样品（变形、纳米结构）。分析功能强大，用户反馈在纹理和应变分析上更灵活。
AZtecCrystal：界面更现代，MapSweeper 模块的动态模板匹配类似球形标定，但 OIM 的 Spherical Indexing 在速度和精度上往往更胜（尤其结合 NPAR）。
两者不相上下，许多实验室交叉使用（OIM 强于后处理，AZtec 采集更快）。文件兼容性有时需转换。
优势
易用与强大并存：从新手到专家均适用，一键分析降低门槛。在增材/焊接非平衡凝固样品中，优秀处理变形纹理、相变和残余应变。
本页收录的具体版本如下：
EDAX OIM Analysis 9.1 加密狗版
加密狗可以插在任意电脑使用
